摘要
为科学合理地确定计量器具的校准周期，提出了基于非等间距GM（1，1）的计量器具校准周期预测方法。该方法以灰色系统理论为依据，首先将已知的非等间距序列进行累加生成处理，对生成序列建立白化微分方程，通过最小二乘法求待辩识参数，进而得出非等间距GM（1，1）；并通过Matlab7．5实现了非等间距GM（1，1）模型的快速求解，以及采用背景值优化和新陈代谢GM（1，1）算法预测计量器具性能的变化趋势更加准确。最后以电压源AgilentN5767的输出电压为例，通过对其输出误差建模来预测误差超出设定阈值的时刻，从而确定仪器的校准周期。
出处
《计量技术》
2011年第4期43-46,共4页
Measurement Technique
