期刊文献+

触发器使用中可靠性问题的讨论

下载PDF
导出
摘要 本文以JK触发器为例,从电路结构的角度说明其使用中常见的干扰现象,产生的原因及其对电路可靠性的影响,并指出了消除干扰的措施。
作者 伍乾永
出处 《内江科技》 2011年第5期35-35,共1页
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献9

  • 1郭希维,苏群星,谷宏强.数字电路测试中的关键技术研究[J].科学技术与工程,2006,6(18):2903-2905. 被引量:18
  • 2丁芳,1995年
  • 3黄振文,6K型电力机车,1992年
  • 4杨士元,数字系统的故障诊断与可靠性设计,1989年
  • 5CELEIRO F, DIAS L, FERREIRA J, et al. VHDL fault simulation for defect-oriented test and diagnosis of digital ICs [ C ]//Proc EURODAC/EURO-VHDL. Geneva, Switzerland, 1996.
  • 6CHESS B,LAVO D B, FERGUSON F J, et al. Diagnosis of realistic bridging faults with single stuck-at information [C ]//Proc Int Conf Computer-Aided Design. San Jose, USA, 1995 : 185-192.
  • 7LAVO D B,LARRABEE T,CHESS B. Beyond the byzantine generals:Unexpected behavior and bridging fault diagnosis [C]// Pmc Int Test Conf. Washington DC,USA,1996:611-619.
  • 8徐建斌,李智.神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用[J].电路与系统学报,2001,6(4):107-110. 被引量:12
  • 9张兰,徐红兵.一种新的Iddq故障定位算法研究[J].电子科技大学学报,2004,33(2):133-136. 被引量:10

共引文献12

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部