摘要
糖调节受损是正常葡萄糖稳态和糖尿病高血糖之间的中间代谢状态,糖尿病发生、发展过程中的一个阶段,是发生糖尿病和心血管疾病的高危因素,包括空腹血糖〈7.0mmol/L、口服葡萄糖2h后血糖在7.8至11．1mmol／L之问的糖耐量减低（IGT）和空腹血糖在6．1至6．9mmol／L之间、口服葡萄糖2h后血糖〈7．8mmol／L的空腹血糖调节受损（IFG）[1]。
出处
《中国中西医结合杂志》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第8期1146-1148,共3页
Chinese Journal of Integrated Traditional and Western Medicine
