期刊导航
期刊开放获取
重庆大学
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
可扩展、高性价比的测试机台
下载PDF
职称材料
导出
摘要
V93000 Smart Scale测试机台专为采用28nm及更小尺寸工艺和3D架构芯片而设计,是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域,通过匹配受测器件的准确数据率要求,实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、
出处
《今日电子》
2011年第9期70-71,共2页
Electronic Products
关键词
智能测试
机台
高性价比
可扩展
SCALE
测试覆盖率
小尺寸
数据率
分类号
TP216 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
胥京宇.
惠瑞捷推出可扩展测试机台系列——V93000 Smart Scale[J]
.世界电子元器件,2011(11):74-74.
2
惠瑞捷推出业内首创可扩展测试机台系列V93000 Smart Scale平台[J]
.电子技术应用,2011,37(10):6-6.
3
胡海涛,钟明琛,刘彬.
用于测试FPGA的Multi-Port下载方式[J]
.信息技术与标准化,2012(8):73-75.
被引量:2
4
爱德万测试AVI64扩充V93000平台通用模拟测试能力[J]
.电子产品世界,2016,23(5):80-80.
5
叶雷.
爱德万测试V93000和T200[J]
.电子产品世界,2015,22(10):77-77.
被引量:5
6
爱德万与惠瑞捷合并后V93000、T2000产品再升级[J]
.中国集成电路,2012,21(6):91-91.
7
刘子龙,孙佳郡,韩光鲜.
一种基于ATE的FPGA测试方法研究[J]
.信息技术,2014,38(9):47-49.
被引量:2
8
裴颂伟,李兆麟,李圣龙,魏少军.
基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案[J]
.电子学报,2013,41(7):1358-1364.
被引量:11
9
爱德万针对亚洲市场推出V93000 Dragon测试平台[J]
.今日电子,2012(7):65-65.
10
惠瑞捷推出可扩展测试机台系列-V93000 Smart ScaIe平台[J]
.中国集成电路,2011,20(10):9-9.
今日电子
2011年 第9期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部