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印制电路工艺溶液分析方法的改进研究

An Improved Method for PCB Process Solution Analysis
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摘要 当前常规印制电路工艺溶液的分析方案存在干扰离子的影响。根据工艺要求,以实验室现有条件为基础,应用络合掩蔽剂掩蔽干扰离子,改进了分析方法,从而提高溶液测量的准确性。并将该方法的分析结果与现行溶液分析方法结果进行对比。结果表明新方法能有效减少工艺溶液中干扰离子的影响。 There were some problems in conventional PCB Process Solution Analysis method. According to process requirements and laboratory existing conditions, we try to use mask-agent to mask interfering ions, then improve the accuracy of the measurement. The analysis results of the new method and the old one were compared. The result shows that the new method can effectively reduce the impact of interfering ions in solution.
出处 《价值工程》 2011年第30期293-294,共2页 Value Engineering
关键词 印制电路 掩蔽剂 干扰离子 PC B interference ions mask-agent
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参考文献5

二级参考文献5

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