晶体管特性图示仪用于电路特性的测试与研究

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摘要图示仪不但可以测量各种半导体特性曲线,而且还可以测试电子电路的特性。由于它能够直观地、完整地、细致地观测电路特性的全貌,从而给电路设计和分析带来很多方便。显然电路的形成众多,本人在长期的测试实践中总结出诸多电路测试经验,本文仅列举典型的电路实例来说明电路特性的测试方法,从晶体管施密特电路滞后特性的测试举例说明。

作者贾淑珍王建敏

机构地区山西省电子工业科学研究所

出处《山西电子技术》 1995年第5期19-21,共3页 Shanxi Electronic Technology

关键词晶体管图示仪施密特电路滞后特性回差曲线

分类号 TN32 [电子电信—物理电子学]

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山西电子技术

1995年第5期

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