期刊文献+

可靠性技术的新动向

下载PDF
导出
摘要 可靠性技术发展,经过了摸底奠基期(1950~1956年)、深入发展期(1957~1962年)、成熟普及期(1962~1967年),目前已进入可靠性保证期。元器件水平已由六十年代的10~100 Fit(菲特)提高到0.1~0.01Fit(1菲特=10^(-9)/小时)。各类元器件的失效模式及机理已基本清楚,各类试验规范、可靠性设计规范及可靠性各类标准已较成熟完整。美国。
作者 肖名鑫
机构地区 五○一部
出处 《质量与可靠性》 1990年第3期42-44,48,共4页 Quality and Reliability

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部