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利用位相信息的条纹微位移测量 被引量:9

Measurement of fringe shift using phase information
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摘要 详细讨论了在利用位相信息测量条纹亚像素级位移时 ,随机噪声、量化、像元尺寸和像元间隙对位移分辨力的影响 ,并给出了详尽的实验结果。采用一般CCD实现了 1/ 10像素的单次测量精度。 The method to measure the subpixel shift of fringe using the information of fringe phase is discussed in detail. Analysis of the impacts of the noise, digitalization, pixel size and pixel gap on the shift resolution is presented. Experiment is demonstrated, in which single measuring precision of one tenth pixel is achieved with a normal CCD.
出处 《光学技术》 CAS CSCD 2000年第2期130-133,共4页 Optical Technique
关键词 测量 条纹位相偏移 CCD 微位移测量 measurement fringe phase shift CCD
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献11

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  • 3孟尔熹 曹尔第.实验误差与数据处理[M].上海科学技术出版社,1981..
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  • 8郭彦珍,仪器仪表学报,1988年,9卷,2期,149页
  • 9苏大图,光学测量,1988年,156页
  • 10孟尔熹,实验误差与数据处理,1981年

共引文献66

同被引文献50

引证文献9

二级引证文献45

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