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使用TEM小室进行集成电路的辐射发射测量 被引量：1

Measuring Radiated Emission of ICs using TEM Cell
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摘要 介绍了使用透射电子显微镜(TEM)小室对集成电路进行辐射发射测量的方法,重点阐述了TEM小室、射频测量仪器、预放和集成电路测试用PCB等测试系统构成部分,环境条件以及测试步骤等内容。 The approach to use Transmission Electron Microscopy （TEM） cell to measure the radiated emission of ICs is introduced. The components, environmental conditions and test procedures of the testing system are described.
作者 肖猛 方文啸
机构地区 工业和信息化部电子第五研究所
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2012年第B05期77-80,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 透射电子显微镜 集成电路 辐射发射 测量 Transmission Electron Microscopy IC radiated emission measurement
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献2

  • 1王敏良,孔德海.集成电路电磁骚扰测试方法[J].安全与电磁兼容,2007(1):12-14. 被引量：1
  • 2IEC 61967-2-2005, Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wide- band TEM cell method [S] . J.

二级参考文献5

  • 1[9]Michael Quirk,Julian Serda.半导体制造技术[M].北京:电子工业出版社,2004
  • 2[2]IEC.IEC 61967-1:2002 Integrated circuits-Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz-Part 1:General conditions and definitions[S].First edition.Geneva,Switzerland:International Electrotechnical Commission,2002.
  • 3[3]IEC.IEC TS 61967-3:2005 Integrated circuits-Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz -Part 3:Measurement of radiated emissions-Surface scan method[S].First edition.Geneva,Switzerland:International Electrotechnical Commission,2005.
  • 4[4]IEC.IEC 61967-5:2003 Integrated circuits-Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz-Part 5:Measurement of conducted emissions-Workbench Faraday Cage method[S].First edition.Geneva,Switzerland:International Electrotechnical Commission,2003.
  • 5[5]IEC.IEC 61967-6:2002 Integrated circuits,Measurement of Electromagnetic Emissions,150 kHz to 1 GHz Part 6:Measurement of conducted emissions-Magnetic probe method[S].First edition.Geneva,Switzerland:International Electrotechnical Commission,2002.

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献2

电子产品可靠性与环境试验
2012年 第B05期

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