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微机测控系统及过程通道的隔离

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摘要 本文给出了基于IPC的测控系统的构成 ,并对系统过程A/D通道、I/O接口的隔离方法、地线布置等作了详细地介绍。
出处 《计量与测试技术》 2000年第3期33-34,共2页 Metrology & Measurement Technique
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