摘要
从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程验证了将边界扫描和 BIST技术应用于 MCM或 PCB板功能测试的可行性。
By using Boundary Scan,this paper researches on BIST of a CUT,which is a core circuit of a domestic product.The design is described by VHDL and implemented with FPGA.The design could pass the test of the TAP controller.The paper finally concludes that applying BIST and Boundary Scan on the function test of MCM or PCB is possible
出处
《桂林电子工业学院学报》
2000年第1期86-90,共5页
Journal of Guilin Institute of Electronic Technology
基金
"九五"国家科技预研项目 !(编号 :3 0 .2 .5 .1)
