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纳米尺度自适应系统中的温度效应的应对

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摘要各种电子元器件、电路和系统的工作性能都会不同程度地受到温度的影响。如何检测、控制和利用这一温度效应是一个好的电路系统设计必需要考虑的问题。

作者孙方敏

机构地区中国科学院电子学研究所

出处《国外科技新书评介》 2012年第6期15-15,共1页 Scientific & Technology Book Review

关键词自适应系统温度效应纳米尺度电路系统设计电子元器件工作性能

分类号 TP273.2 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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2012年第6期

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