商用接触器Ag/SnO_2和Ag/CdO触头的关合侵蚀

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摘要本文是以前对Ag/CdO和Ag/SnO_2触头在AC3和AC4条件下研究不同电弧侵蚀的继续。以前的文章是研究触头开断时的侵蚀,本文则只是考虑触头弹跳和关合侵蚀。测量结果表明,现代接触器触头弹跳的幅度只有0.1mm的数量级。在这样的条件下,Ag/SnO_2触头关合的电弧侵蚀比Ag/CdO大2—3倍。为了更好地探知其侵蚀机理研究了各种因素的影响。

作者 W.Rieder 程礼椿

出处《电工合金文集》 1991年第2期49-54,60,共7页

关键词接触器触头关合侵蚀

分类号 TM572.035 [电气工程—电器]

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