摘要
快速准确测定重晶石中硫酸钡及其他主次成份的含量,对于地质找矿或选矿试验十分重要。本文采用熔融制样—X射线荧光光谱法[1～3]测定重晶石中Ba、AL2O3、Fe2O3、CaO、MgO、SiO2、Na2O、K2O、Sr等主、次量组分,研究了矿物结构效应,解决了基体效应的影响,试验了制样的条件,确定仪器测量的最佳参数。各元素相对标准偏差(RSD,n=12)≤8%,测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确,便于操作,具有良好的精密度和准确度,已大量应用于重晶石中钡、锶、铁、钙、镁、铝、硅、钾、钠等元素的同时测定。
出处
《科技资讯》
2013年第16期84-85,共2页
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