应用精密单点定位技术进行1:10000基础测绘像控点测量的可行性分析被引量：1

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摘要随着测量技术的不断发展,测量数据的精度不断提高,人们在建筑设计和测量科学中对像控点测量技术的需求不断增大,本文根据精密单点定位技术进行1:10000基础测绘像控点测量进行分析,并指出精度的控制办法和优缺点。

作者罗国康

机构地区成都市勘察测绘研究院

出处《低碳世界》 2013年第9期114-115,共2页 Low Carbon World

关键词概念原理流程优缺点

分类号 P228 [天文地球—大地测量学与测量工程]

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