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X射线光电子能谱扩展新方法的研究 被引量:7

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摘要 本文研究了表面分析技术-X射线光电子能谱扩展电子能谱的微小差别物种鉴定上的应用。建立在新型功能碳材料中碳元素的化学状态的分析方法。利用X射线电子能谱的指纹峰、X射线激发俄歇谱、变角X射线光电子谱技术对新型功能材料以及纳米器件的研究开发提供了导向信息.
出处 《实验技术与管理》 CAS 2000年第6期17-19,共3页 Experimental Technology and Management
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献4

  • 1朱永法,叶小燕,姚文清,陈德朴,曹立礼.Ar离子束作用下C_(60)薄膜的结构稳定性研究[J].物理化学学报,1995,11(8):699-703. 被引量:2
  • 2时方晓,Proceeding of Chinese-MRS and MRS-Korean Joint Symposium,1996年
  • 3曹小平,化学物理学报,1997年,10卷,3期,255页
  • 4Ohno T R,Phys Rev B,1993年,47卷,4期,2389页

共引文献8

同被引文献69

引证文献7

二级引证文献6

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