期刊文献+

雷尼绍OMP60测头在数控机床在线检测中的应用 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 雷尼绍OMP60测头是一种光学传输测头,与OMI-2传输接收器配合调制使用,具备360°红外线传输与6m工作范围,具有极强的抗光干扰能力。本文阐述采用雷尼绍OMP60测头系统结合数控机床系统实现工件测量方法,包括测头校准及多种测量方式在加工过程中的实现。
出处 《合作经济与科技》 2014年第14期188-189,共2页 Co-Operative Economy & Science
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献15

  • 1张国雄.坚持科学发展观,推进机械制造业(下)[J].世界制造技术与装备市场,2005(2):74-77. 被引量:1
  • 2肖贵福.对发展坐标测量机测头的新思考[J].现代计量测试,1995,3(4):4-9. 被引量:9
  • 3韩翠娥,籍凤荣,米双山,聂香振.接触触发式测头触发力的理论分析[J].军械工程学院学报,2005,17(5):75-78. 被引量:10
  • 4Schwenke H,Neuschaefer-Rube U,Pfeifer T.Kunzmann H. Optical methods for dimensional metrology in production engineering.Annals of the CIRP.2002,51 (2):685-699
  • 5Coleman D, Waters F. Fundamentals of touch-trigger probing,Touch-trigger Press. 1997
  • 6Kumasragiri M, Maharaja Pillai B, Meena K. Piezoelectric sensor based CMM probe, Proceedings of the First national conference in precision engineering, Chennai, India.2000:367 - 377
  • 7Vidic M, Harb S M, Smith S T. Observatious of contact measurements using a resonance-based touch sensor. Precision Engineering, 22/1,1998:19 - 36
  • 8Weckenmann A,Estler T, Peggs G. McMurtry D. Probing systems in dimensional metrology. Annals of the CIRP. 2004, 53(2) :657 - 684
  • 9Jae-jun Park, Kilhwan Kwon, Nahmgyoo Cho. Development of a coordinate measuring machine(CMM)touch probe using a multiaxis force sensor. Measurement Science and Technology, 2006.17: 2380 - 2382
  • 10Meli F, Kung A, Thalmann R. Ultra precision micro-CMM using a low force 3D touch probe. Proc. of SPIE.200511 F.Meli,A.Kung, R.Thalmann, Ultra precision micro-CMM using a low force 3D touch probe. Proc. of SPIE.2005

共引文献40

同被引文献3

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部