摘要
用泵浦 -探测技术研究了氢化纳米硅薄膜 (nc- Si:H)的非线性光学性质 ,观察到纳米 Si中激子的光吸收饱和现象 ,测得实验用样品在波长 5 5 4nm处有最大的折射率改变量Δn=- 6 .1× 10 - 5 ,并对该材料的光学非线性机理作了探讨。
We have investigated the nonlinear optical properties of hydrogenated nanocrystalline silicon (nc-Si:H) films by pump-probe technique. The phenomenon of the saturated absorption of the exciton in the silicon nanoparticle is observed, and the maximum nonlinear refractive index change at 554 nm is about -6.1×10-5. The nonlinear mechanism of optical absorption of the material is discussed.
出处
《光电子．激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第3期219-221,共3页
Journal of Optoelectronics·Laser
基金
国家自然科学重大基金资助项目 (698962 60 )
集成光电子学国家重点实验室开放课题基金资助项目 (11E0 1)
关键词
薄膜
激子光学非线性
氢化钠米硅
Excitons
Hydrogenation
Optical pumping
Silicon
Thin films
