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元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合 被引量:17

The distribution fitting for the testing data of electronic parts
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摘要 在元器件质量和可靠性分析中 ,往往要确定试验和测试数据的统计分布规律 .针对元器件质量和可靠性问题的数据特点 ,采用非线性最小二乘法拟合方法 ,并开发了相应的计算机程序 ,用于自动确定数据的统计分布规律 ,对实际生产线采集的数据进行分析处理 ,其精度明显优于传统方法 . When analyzing the quality and reliability of electronic parts, the statistic distribution of the testing data should be known. It is shown that the results of an analysis could be different greatly using different traditional methods. In view of the specific property of the testing data, a program is developed using the non linear least squares fitting method. The statistic distribution of the testing data can be obtained automatically with the program, with the results satisfactory in practical application.
出处 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期336-339,共4页 Journal of Xidian University
关键词 可靠性 统计分布 电子元器件 reliability statistical distribution fitting non linear least squares fitting merit testing
  • 相关文献

参考文献6

  • 1贾新章 郝跃.双极IC工艺参数测试芯片的设计和应用[J].西安电子科技大学学报,1992,19:24-31.
  • 2史保华,微电子器件可靠性,1999年
  • 3梁小筠,正态性检验,1997年
  • 4杨振海,拟合优度检验,1994年
  • 5贾新章,西安电子科技大学学报,1992年,19卷,增刊,24页
  • 6程正兴,数据拟合,1986年

同被引文献72

引证文献17

二级引证文献64

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