摘要
在论证了晶体管低频噪声中的 g r噪声服从非高斯分布之后 ,提出了一种通过计算晶体管低频噪声的高阶累积量来判断是否含有 g r噪声的新方法 ,并通过实验验证了该方法的正确性。
This disseration proves that the g r noise,a kind of low frequency noise of transistor,is Nongaussion distribution and then gives a new method through computing higher order cumulant of low frequecy noise of transistor to distinguish g r noise.Experiments show this method is correct.
出处
《吉林工业大学自然科学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期77-81,共5页
Natural Science Journal of Jilin University of Technology
