摘要
通过控制所滴加的金纳米粒子氯仿溶胶的浓度 ,在高序定向裂解石墨 (HOPG)上 ,可以形成二维乃至三维有序的金纳米粒子膜结构。本文主要利用原子力显微镜中的轻敲原子力 (TM AFM)显微模式 ,采用形貌与相位同时成像技术以及透射电镜技术 ,对所形成的有序膜结构进行了系统的表征 。
Thiol capped gold nanoparticle ordered monolayer film, formed on HOPG substrate by dropping the nanoparticle colloidal toluene solution, was investigated using tapping mode atomic force microscope (TM AFM). The result shows that the combination of height and phase imaging techniques can provide reliable information on the nanoparticle film structure. Transmission electron microscopy (TEM) characterization has also given a similar result.
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期589-593,共5页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金
国家自然科学基金资助项目 (No .6 9890 2 2 3)~~
关键词
金纳米粒子
有序膜
原子力显微镜
透射电镜
成像技术
表征
thiol capped gold nanoparticle ordered film
atomic force microscope (AFM)
transmission electron microscopy (TEM)
