X射线荧光光谱溶液滤纸薄样法测定矿物样品中钼

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摘要本文根据荧光分析有效照射面积的滤纸对溶液的最大饱和吸收量,采用微量进样器,分取50μl试液,用烙有蜡环(φ25mm)的成形滤纸作为X射线荧光光谱分析样品的支持物,实现了不同矿种中高含量钼的薄样法定量测定。本法操作简单,制样速度快,成本低,稳定性好,被测组分荧光强度与浓度在0.1～100%的范围内有良好的线性关系。

作者刘雪珍荆照政

机构地区湖南省地矿资源测试利用所

出处《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 1991年第4期240-240,共1页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

关键词矿物钼测定 X射线荧光光谱

分类号 O614.612 [理学—无机化学]

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理化检验（化学分册）

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