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表面分析仪器及其技术进展之三:表面分析:XPS和AES 被引量:1

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摘要 本述评综合了1997年10月到1999年10月期间国际上在表面分析领域的发展情况,着重强调这些技术在目前发展水平方面改进的思路和新趋势。本文将有助于分析工作者解决在使用XPS和AES时所遇到的问题。
作者 黄惠忠
出处 《国外分析仪器技术与应用》 2001年第3期1-15,共15页 Foreign Analytical Instrumentation
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