二极管伏安特性曲线测试电路的改进被引量：12

Improvement in circuit for measuring the voltage current characteristic of diode

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摘要指出了文献中所给出的伏安法测二极管特性曲线电路存在的问题。 The shortcomings of a circuit for measuring the voltage current characteristic of diode in some documents are discussed, and the improved circuit is propounded.

作者邵建新

机构地区石河子大学师范学院物理系

出处《物理实验》北大核心 2002年第3期42-43,共2页 Physics Experimentation

关键词二极管伏安特性阈值电压测试电路 diode voltage current characteristic threshold voltage test circuit

分类号 TN31 [电子电信—物理电子学] TN710 [电子电信—电路与系统]

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