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电容位移法精确测量磁性薄膜的磁致伸缩系数 被引量:10

A method for testing the magnetostriction coefficient of thin films accurately
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摘要 介绍了一种精确测量磁性薄膜磁致伸缩系数方法———电容位移法 ,并自行研制组装了一套测量装置 ,通过误差分析、仪器的精确标定 ,对稀土 铁超磁致伸缩薄膜的磁致伸缩系数进行了测量 。 A method for testing the magnetostriction coefficient of thin film accurately was presented in this paper. The thin film and the sensor of the testing equipment constructed a capacitance. By confirming the relationship between the capacitance and the displacement of the cantilever film, the magnetostriction coefficient of the film could be calculated accurately. The giant magnetostriction of TbDyFe prepared by magnetron sputtering was tested and the results were satisfied.
出处 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期262-263,266,共3页 Journal of Functional Materials
基金 国家自然科学基金资助项目 (59971 0 64)
关键词 电容位移法 精确测量 磁性薄膜 磁致伸缩系数 magnetostriction coefficient thin films capacitance displacement
  • 相关文献

参考文献3

  • 1[1]Ludwig A,Quandt E. [J]. J Appl Phys,2000,87(9):4691.
  • 2[2]Klolholm E. [J]. IEEE Trans Magn Mag, 1976,12:819.
  • 3[3]Quandt E. [J].J Appl Phys,1994,75(10):5653.

同被引文献58

引证文献10

二级引证文献40

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