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粘合银汞对Ⅱ类洞银汞修复体抗力形的作用

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摘要 目的:通过对使Ⅱ类洞粘合银汞修复体破坏所需的力的研究,评价其对抗力和固位形的影响。材料和方法:实验分为5组,每组12颗上颌磨牙,进行近中HeⅡ类洞牙体预备。1组,扩展到He面中央沟,无固定沟;2组,近中狭缝牙体预备,无固位沟;3和5组,有颊舌侧长固位沟的狭缝牙体预备;4组,无固位沟的狭缝牙体预备,有近中无支持的釉质。1到4组用银汞-粘合系统和银汞修复;5组不用银汞-粘合系统。结果:平均(标准差)破坏力:1组,281(77)N(牛顿);2组,246(101)N;3组,238(84)N;4组,254(100)N;5组,191(66)N。结论:虽然银汞粘合技术对脱位或折断抗力有增加的趋势,但与有固位沟组比较,抗破坏力增加不明显。
作者 BonaAD SummJB
出处 《中国口腔医学继续教育杂志》 1999年第2期10-15,共6页 Chinese Journal of Stomatologial Continuing Education
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