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安捷伦推出最新多通道PXI测试解决方案,加速生成和分析LTE/LTE-Advanced波形

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摘要 2014年7月4日，北京——安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出LTE／LTE—Advanced多通道PXI测试解决方案。该方案可加速配置多通道测试系统，有助于工程师进一步完善其复杂的载波聚合和空间多路复用MIMO设计。

出处《电子测量技术》 2014年第7期139-140,共2页 Electronic Measurement Technology

关键词安捷伦科技公司测试解决方案多路复用 LTE 多通道 PXI 工程师设计

分类号 TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]

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电子测量技术

2014年第7期

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