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微区原位X射线荧光光谱法测定银合金及首饰 被引量:6

MICRO-AREA IN-SITU X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETRY FOR IDENTIFICATION OF SILVER ALLOY AND ORNAMENTS
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摘要 利用带微区分析功能的新型X射线荧光光谱仪,对银合金及首饰中Ag、Cu、Zn等元素进行微区原位分析,建立合理的定量分析方法。该方法具有良好的精密度和准确度,可应用于银合金及首饰的无损检测,并象电子探针测量那样避开焊点,准确地测定各元素的含量。 New-type X-ray fluorescent spectrometer with micro-area analysis function was used to perform micro- area in-situ analysis of Ag, Cu, Zn and etc. in silver alloy and ornaments to form a reasonable quantitative analysis method, which is precise and accurate, applicable to non-destructive examination of silver alloy and ornaments, can avoid welding spot as probe does and give an accurate content of each element.
出处 《安徽地质》 2014年第3期213-214,219,共3页 Geology of Anhui
关键词 微区分析 X射线荧光光谱 银合金 micro-area analysis X-ray fluorescent spectrum silver alloy
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