摘要
各大MLC NAND Flash生产公司在使用手册中标注其重复可擦除次数为1万,市面上也没有相关产品检测此数据的真实性。为了检测NAND Flash的实际擦除次数,设计了基于Atmega128驱动NAND Flash的小系统,并使用专用的上位机软件测出各种的NAND Flash的实际使用寿命,从而为广大电子使用者在选型与研究ECC纠错算法时提供最真实的参考数据。该系统具有成本低、可通用性、实用价值高等优点。
出处
《中国科技信息》
2015年第13期84-85,66,共2页
China Science and Technology Information
