摘要
用有限元分析的方法对分裂变压器绕组的不同结构进行了分析,用试验的方法对漏磁分布引起的局部发热进行了验证。
The structures of winding in split transformer are analyzed with the finite element method.The partial overheat caused by leakage flux is verified by test method.
出处
《变压器》
北大核心
2015年第7期63-66,共4页
Transformer
关键词
分裂变压器
绕组结构
有限元分析
试验
Split transformer
Winding structure
Finite element analysis
Test
