期刊文献+

基于PDE的错位ESPI无损检测方法与系统实现

Shearing ESPI nondestructive testing method based on PDE and system implementation
下载PDF
导出
摘要 设计并实现了电子散斑干涉无损检测系统,搭建了错位电子散斑干涉光路.采用基于偏微分方程的电子散斑干涉信息提取技术对采集到的散斑图像进行处理,结合条纹图自身的方向信息,利用偏微分方程提取电子散斑干涉条纹图的中心线并进行相位插值,得到物体的变形信息,从而实现无损检测.实验结果表明:本文方法提取的相位平均误差在2%以内. A shearing electronic speckle pattern interferometry light path is built, and a nondestructive testing system of electronic speckle pattern interferometry is designed and implemented. The partial differential equation image processing technology is used in speckle image processing. Combined with the direction of fringes, the partial differential equations are applied to skeleton extraction and phase interpolation to obtain the deformation information of the object. The average error of the extracted phase from the proposed method is less than 2%.
出处 《天津工业大学学报》 CAS 北大核心 2016年第1期38-42,49,共6页 Journal of Tiangong University
基金 国家自然科学基金资助项目(61102150) 电光信息技术教育部重点实验室(天津大学)开放基金(2013KFKT011) 天津工业大学大学生创新创业训练计划项目(201410058)
关键词 无损检测 错位电子散斑干涉 偏微分方程 相位提取 nondestructive test shearing electronic speckle pattern interferometry(ESPI) partial differential equation(PDE) phase extraction
  • 相关文献

参考文献13

二级参考文献53

共引文献32

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部