可靠性工程与环境工程

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摘要 Y2000-62027-310 0005345失效分析(收录论文4篇)=Failure analysis[会,英]//1999 IEEE International Reliability Physics Sympo-sium.—310～336(UC)本部分收录的论文题目有:利用肖特基扫描电容微分析法的0.4μmCMOS 器件的二维载流子分布。

出处《电子科技文摘》 2000年第4期4-4,共1页 Sci.& Tech.Abstract

关键词可靠性工程环境工程失效分析载流子分布收录论文微分析肖特基论文题目可靠性评价潜在损伤

分类号 TN [电子电信]

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