摘要
Y2000-62185-64 0100025用于 CMOS SRAM 单元冷故障分析的新型单元隔离技术=Novel cell isolation technique for the analysis ofCMOS SRAM cell cold failure[会,英]/Lim,Y.-W.&Ycoh.T.-S.//1998 IEEE International Conference onSemiconductor Electronics.—64～69(EC)Y2000-62185-86 0100026半导体器件与电路的性能衰降建模=Degradationmodeling of semiconductor devices and electrical circuits[会,英]/Lagies,A.U.& Gohler,L.//1998
出处
《电子科技文摘》
2001年第1期3-4,共2页
Sci.& Tech.Abstract
