期刊文献+

优化设计在低压成套设备PCC和MCC回路温升验证中的应用探讨

Discussion on Application of Optimization Design in PCC and MCC Circuit Temperature Rise Verification of Low Voltage Assembly
下载PDF
导出
摘要 为了解决低压成套设备新标准IEC 61439/GB 7251对温升验证所要求的最严酷布置问题,通过优化设计的方法求取最优解,得到PCC和MCC回路温升最严酷的一组布置。为相关技术人员确定温升试验的配置提供一种新方法。 In order to get the rigorous layout of low voltage assembly required by the temperature rise verification in new standard IEC6 1439 / GB 7251,through pursuing the best solution of optimization design,it gets a group of rigorous layout of PCC and MCC circuit,which can provide a new method of temperature rise verification for designer.
作者 毛华荣
出处 《电器与能效管理技术》 2016年第4期73-75,共3页 Electrical & Energy Management Technology
关键词 低压成套设备 温升验证 优化设计 PCC MCC low voltage assembly temperature rise verification optimization design PCC MCC
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部