一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法

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摘要本文设计了一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法,通过增加一个延时扫描电路、一个比较器和一个计数器,可以自动扫描并快速地找到与SRAM读取时间最近接的延时,通过测量由该延时组成的环形振荡器的振荡周期从而得到SRAM的读取时间。这种测试方法避免了测试时频繁的人工操作介入,测试效率高,并且由于采用固定延时单元和具有多个可选延时的单元的组合方式,在保证较大的测量范围的前提下,节省版图面积。

作者拜福君段会福付妮李晓骏

机构地区西安紫光国芯半导体有限公司

出处《电子世界》 2017年第9期196-197,共2页 Electronics World

关键词 SRAM 读取时间自测试

分类号 TP333.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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