摘要
本文以ATmega8单片机作为控制中心,通过使用光敏电阻对光的灵敏度设计光强测试器。该仪器可以实现测试不同等级的光照强度,并能够显示光照等级,并对无光状态进行报警的功能。
In this paper, ATmega8 microcontroller as a control center, through the use ofphotoresistor sensitivity to light design light intensity tester The instrument can be used to test different levels of light intensity, and can display the light level, and the state of the alarm.
出处
《数字技术与应用》
2017年第8期3-4,共2页
Digital Technology & Application
关键词
单片机
光敏电阻
光照强度
等级
single chip
photoresistor
light intensity
grade
