摘要
近日,科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技（以下简称：赛默飞）亮相成都第24届国际集成电路物理与失效分析研讨会（IPFA 2017）,并发布三款用于半导体失效分析工作流程的全新产品,旨在帮助半导体故障分析实验室提升处理样品和获取数据的效率,为寻求快速、高质量的电性和物理失效分析的半导体制造商提供创新解决方案。
出处
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第8期1171-1171,1187,共2页
Chinese Journal of Analytical Chemistry
