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FinFET静电可靠性及新型Fix-base SOI FinFET研究

Investigation on the Electrostatic Reliability of FinFET and Novel Fix-base SOI FinFET
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摘要 在鳍型场效应晶体管(SOI FinFET)相关静电防护技术研究基础上,提出了一种新型的体区接触固定型绝缘体上硅鳍型场效应晶体管泄放钳位装置(Fix-base SOI FinFET Clamp)。该新型结构的器件解决了基区接触浮空在静电防护设计时引起的一系列问题,而且对正常的FinFET工艺具有良好的兼容性。通过计算机辅助工艺设计(TCAD)仿真论证了Fix-base SOI FinFET Clamp具有明显效果,详细阐述和讨论了SOI FinFET和Fix-base SOI FinFET Clamp工作状态下的电流和热分布。 A novel fix-base SOI FinFET(Fin field effect transistor) clamp was proposed for the electrostatic protection of SOI FinFET. The novel structure of the device was to solve the problems induced by the floating base, which also has good compatibility with the standard Fin- FET processes. Using TCAD (technology computer aided design) simulation, it was shown that the fix-base SOI FinFET clamp has evident effects. The current and heat distribution of the SOI FinFET and fix-base SOI FinFET Clamp were also described and discussed in details.
出处 《固体电子学研究与进展》 CSCD 北大核心 2017年第4期271-274,共4页 Research & Progress of SSE
基金 江苏省高等学校自然科学研究项目(17KJB416001) <江苏高校品牌专业建设工程资助项目(PPZY2015B129)> <江苏省电气工程及其自动化品牌专业建设一期工程项目> <江苏省"电气工程"省重点建设学科> <江苏省高校"特种电机研究与应用"重点建设实验室> <基于22nm制程以下FinFET静电防护机理研究>等项目资助
关键词 静电可靠性 绝缘体上硅 鳍型场效应晶体管 体区固定型绝缘体上硅鳍型场效应晶体管泄放钳位装 electrostatic reliability silicon on insulator (SOI) Fin field effect transistor (Fin- FET) fix-base SOI FinFET clamp
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