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Jenoptik Industrial Metrology粗糙度、轮廓测量设备提高测量速度

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摘要 Jenoptik公司的Waveline W800系列粗糙度和轮廓测量设备包括四种配置，基本配置包括一个120mm横向装置和一个500mm垂直测量柱。该新式型号一个轴的移动速度比以往型号快6倍。同现有型号相比，环境噪声过滤量提高约30％。

出处《现代制造》 2018年第25期72-72,共1页 Maschinen Markt

关键词 INDUSTRIAL 测量设备粗糙度测量速度轮廓噪声过滤型号速度比

分类号 TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]

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现代制造

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