摘要
随着了工业制造水平的发展,IPM的生产技术得到了极大的发展,器件的可靠性问题将是未来研究面临的新挑战。针对国内外近年来在智能功率模块失效分析方面的主要研究内容,综述了智能功率模块应用失效的测试方法以及失效定位技术,总结了连续性失效、绝缘性失效、HVIC故障、IGBT故障和NTC故障的测试方法,并分析了这些器件故障可能的失效原因。
出处
《中国集成电路》
2018年第10期69-75,共7页
China lntegrated Circuit
基金
国家自然科学基金(00000000)
国家高技术研究发展计划(863计划)(2008AA000000)
