无损筛选的探讨

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摘要无损筛选是当前研究常规电路与加固电路具有抗辐射能力的有效方法,而无损筛选通常是指对电路最终产品进行的一种筛选。文中将以L54HC04电路研制为例,通过对其圆片级进行无损筛选试验,提出一个可以大大降低成本的无损筛选新方法——圆片级无损筛选。

作者刚

出处《中国无线电电子学文摘》 2003年第2期1-1,共1页

关键词圆片抗辐射能力最终产品降低成本筛选试验

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中国无线电电子学文摘

2003年第2期

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