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浅谈假冒、翻新塑封器件的识别 被引量:2

The methods to detect counterfeit and face-lifting plastic encapsulated microcircuit(PEM)
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摘要 随着塑封器件在武器系统使用越来越广泛,各种假冒、翻新塑封器件也随之涌入进来,这些假冒、翻新器件一旦安装到型号产品上将给产品的可靠性带来巨大的风险。本文对假冒、伪劣塑封器件进行了分类,并通过对工作中接触到的各种假冒、翻新塑封器件特征进行整理、分析,总结出识别假冒、翻新塑封器件的方法。 With the widespread use of the PEM in weapon system,all kinds of Counterfeit and Face-lifting PEM pour into market.If these devices use in weapon system,will bring huge risk to the product's reliability.This paper classified counterfeit and face-lifting PEM,and through sorted out and analyzed the feature of The PEM at work,summed up the methods to detect Counterfeit and Face-lifting PEM.
作者 陈章涛 潘梦
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2012年第S1期23-25,共3页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
关键词 塑封器件 假冒、翻新特征 识别方法 Plastic Encapsulated Microcircuit(PEM) feature of the counterfeit and face-lifting PEM Methods
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