摘要
本文提出了利用颜色特征、亮颜特征和边界邻域特征并加入了新提出的修正饱和度特征的过曝光检测算法。首先使用LC检测算法标记已转入CIE-Lab彩色空间的图像,将过曝光区域都标记好的图像作为训练图像,提取出融合了上述四种特征的特征向量组用于分类。再使用L2正则化逻辑非线性回归算法得到分类器模型参数。然后用该模型实现对输入图像过曝光区域的识别与标记。
出处
《电子技术与软件工程》
2019年第11期68-70,共3页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING