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2019智能检测与评估大会通知(第一轮)

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摘要 2019年中国智能检测与评估大会将于10月30日~11月1日在上海光大国际大酒店隆重举行。本次大会旨在畅谈"今天-明天"的检测技术,届时将有国内外的业内专家作精彩技术和学术报告,同期举行大会委员受聘仪式和参观QC展现场观摩,为科技创新、企业技术问题提供解决思路和启示。
出处 《无损检测》 2019年第9期80-80,共1页 Nondestructive Testing
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