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浅谈DC/DC功率器件在ATE测试过程中的故障分析

Fault Analysis of DC/DC Power Device in ATE Testing
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摘要 由于数据业务的飞速发展和分布式供电系统的不断推广,DC-DC模块电源的增幅已经超出了一次电源,而且其功率密度也越来越大,对封测得要求也越来越高。大功率DC/DC集成电路或者功率电源控制芯片在研发测试(特别是ATE测试)过程中经常会出现各种各样的产品失效,有些是产品故障,有些却是误判。因此,我们必须学会对失效产品进行故障分析,以甄别失效的真假。 Due to the rapid development of data services and the continuous promotion of distributed power supply system,the increase of DC/DC power module has exceeded the primary power supply.It requires the package and testing technique higher and higher while the power density is increasing.The high power IC or DC/DC controller often fail in the process of R&D and testing(especially automated equipment testing).Some failures are product fault,while others are misjudged.So we must learn to analyze the failure of the product in order to identify the true or false failure.
作者 魏军 仇钱进 张磊 Wei Jun;Qiu Qian-jin;Zhang Lei(China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Jiangsu Wuxi 214035)
出处 《电子质量》 2019年第11期26-31,共6页 Electronics Quality
关键词 DC/DC电源芯片 ATE测试 产品失效 故障分析 DC/DC power device ATE testing Product failure Fault analysis
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