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大规模集成电路健康管理的解决方案

Study on Health Management Solution of Large Scale Integrated Circuits
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摘要 现代通讯领域的先进数字系统标准如Picmg3、VITA等均使用了IPMI的理念,并定义了独立的健康管理子系统。以VITA标准中系统管理总线为基础,围绕国产单片机XX32F103,建立了软硬件一体的系统健康管理解决方案,并将其成功应用于大规模集成电路的健康管理中。 Advanced digital system standards such as Picmg3 and VITA in modern communications use the IPMI concept and define an independent health management subsystem.Based on the system management bus in VITA standard,this paper establishes a software and hardware integrated system health management solution around the domestic single-chip XX32F103,and successfully applies it to the health management of large-scale integrated circuit.
作者 翟芳 李欣荣 ZHAI Fang;LI Xinrong(CEPREI,Guangdong 510610,China.)
出处 《集成电路应用》 2020年第2期42-44,共3页 Application of IC
基金 工业和信息化部科工局技术基础科研项目
关键词 系统管理器 智能平台管理接口 集成电路 健康管理 system management IPMI integrated circuit health manager
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参考文献3

二级参考文献25

  • 1丁道勤.我国产业政策法律化研究——以软件产业与集成电路产业发展立法为视角[J].中国软科学,2007(8):35-45. 被引量:11
  • 2ITRS. ITRS report [EB/OL]. http,//www, itrs. net, 2011.
  • 3SIA. Global sales report[EB/OL]. http://www. semiconductors, org, 2013.
  • 4丁文武.推动电子信息产业向价值链高端延伸[EB/OL].http://miit.ccidnet.com,2013.
  • 5中国半导体行业协会.中国半导体产业发展状况报告(2013年版)[R].2013.
  • 6张和.台积电斥资14亿美元人股芯片设备厂商ASML[EB/OL].http://tech.qq.com,2012.
  • 7Baozhen L, Christiansen C, Badami D, et al. Electromigration Challenges for Advanced on-chip CuInterconnects[J]. Microelectronics Reliability, 2014, 54(4): 712-724.
  • 8Lall P, Lowe R, Goebel K. Comparison of prognostic health management algorithms for assessment of electronic interconnect reliability[C]. ASME 2013 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems, Burlingame, CA, United states, July 16 - July 18, 2013. A019-A029.
  • 9Ramakrishnan Arun, Pecht Michael G. A Life Consumption Monitoring Methodology for Electronic Systems[J]. IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2003, 26(3): 625-634.
  • 10刘建影.微电子技术的可靠性--互连、器件及系统[M].北京:科学出版社,2013.36-45.

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