期刊文献+

UV-LIGA深度光刻机平滑衍射技术研究 被引量:6

An Investigation on Diffraction Reducing Technology of Equipment for UV-LIGA Deep Lithography
下载PDF
导出
摘要 UV -LIGA深度光刻技术是加工微型机电系统的一项重要的微细加工技术。介绍了一种平滑衍射效应的位错强度叠加原理 ,它采用了蝇眼积分透镜去平滑衍射 ,并模拟数值计算了硅片表面的光强分布 。 UV-LIGA deep lithography technology is an important micro fabrication technology of fabricating micro electro mechanical systems. In this paper, the principle of phase dislocation strength super impose of reducing diffraction effects is presented, and the diffraction is reduced making use of Fly's Eye Integral Lens. Numerical simulations of the intensity distribution on the wafer plane have been done. In the end, experimental results are presented.
出处 《微细加工技术》 2002年第3期40-43,共4页 Microfabrication Technology
关键词 深度光刻机 UV-LIGA技术 平滑衍射 蝇眼积分透镜 错位强度叠加 UV-LIGA technology diffraction reducing Fly's Eye Integral Lens
  • 相关文献

参考文献5

  • 1张兴,郝一龙,李志宏,王阳元.跨世纪的新技术——微机电系统(MEMS)[J].电子商务,1999(4):2-6. 被引量:18
  • 2Zinner H. Microsystem-the European approach[J]. Sensors and Actuators, 1995,A46:1.
  • 3余国彬,姚汉民,胡松,王兆志,林大健.UV-LIGA光刻设备研究[J].电子工业专用设备,2000,29(4):26-29. 被引量:4
  • 4余国彬 姚汉民 胡松.提高MEMS侧壁陡度的一种新方法[J].压电与声光,2001,(23):116-118.
  • 5W Ehrfeld, P Bley, F Gotz, et al. Progress in deep-etch synchrotron radiation lithography[J ]. J Vac Sci Technol, 1988,B6(1): 178-182.

二级参考文献4

共引文献19

同被引文献35

  • 1李尧.紫外、远紫外光刻共用的曝光系统[J].电子工业专用设备,1995,24(1):30-34. 被引量:1
  • 2郑晓虎,朱荻.模糊神经网络在UV-LIGA工艺优化中的应用[J].光学精密工程,2006,14(1):139-144. 被引量:17
  • 3唐雄贵,姚欣,高福华,温圣林,刘波,郭永康,杜惊雷.厚胶光刻非线性畸变的校正[J].光学学报,2006,26(7):1032-1036. 被引量:6
  • 4李木军,沈连婠,赵玮,李晓光,范明聪,王晓东,刘雳颋,郑津津.紫外光刻中部分相干光的传播及衍射效应[J].中国科学技术大学学报,2007,37(1):24-29. 被引量:9
  • 5顾德门J W.傅里叶光学导论[M].北京:科学出版社,1976..
  • 6RONALD A L. Manufacturing tolerances for UV LIGA using SU-8 resist[J]. Journal of Micromechanics, 2005, 15(11): 2 198-2 203.
  • 7REZNIKOVA E F, MOHR J, HEIN H. Deep photolithography characterization of SU-8 resist layers[J]. Microsystem Technologies, 2005, 11(4-5): 282-291.
  • 8CHUANG Y J, TSENG F G, LIN W K. Reduction of diffraction effect of UV exposure on SU-8 negative thick photoresist by air gap elimination[J]. Microsystem Technologies, 2002, 8(4-5): 308-313.
  • 9CHEN Y M, ZHENG J J, ZHOU H J, et al. Pattern transfer error correction of certain layer in SU-8 deep UV lithography[C]//IEEE Robotics and Automation Society. Proceedings of the 2007 International Conference on Information Acquisition. July 9-11, 2007, Jeju City, Korea. 2007: 332-335.
  • 10MAX B, EMIL W. Principles of optics[M]. 7th ed. edition. United States of America: Cambridge University Press, 1999.

引证文献6

二级引证文献16

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部