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光纤微弯损耗机理试验

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摘要光纤的微弯是光缆制造中应重视的一种损耗机理。在成缆过程中,按规范的要求,光纤的传输性能不变,但实际上有时会使性能下降。目前还没有办法判明光纤的这种性能。为此就该问题和判明表示微弯性能的参数进行论述,并对一种重复性好、有代表性的新颖微弯试验进行了研究,提出了可预测光纤性能的模型。

作者 P.A.Suthon 马庆文白树山

出处《电线电缆》 1992年第5期22-26,共5页 Wire & Cable

关键词光纤微弯损耗试验

分类号 TN818 [电子电信—信息与通信工程]

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电线电缆

1992年第5期

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