摘要
用 X射线衍射外推函数法测定 Na Y超稳分子筛的晶胞参数 ,用 2 9Si、2 7Al固体 NMR方法测定分子筛骨架中的硅铝比 ,提出了 Na Y超稳分子筛硅铝比与晶胞参数关联的经验公式。通过测定分子筛的晶胞参数即可得到 Na Y超稳分子筛的硅铝比。该方法测得的 Na Y超稳分子筛硅铝比 ,比通常采用的化学分析方法省时、简便。
The Si/Al ratio of NaY molecular sieve was determined by an empirical formula of lattice constant obtained by extension function method of X-ray diffraction and framework Si/Al ratio of NaY molecular sieve determined by solid nuclear magnetic resonant spectrum method.The method is simpler,more convenient and better repeatable than the traditional used chemical analysis method.
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2003年第3期452-454,共3页
Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory
关键词
X射线衍射
NAY分子筛
固体NMR
硅铝比
XRD,NaY Molecular Sieve,Solid Nuclear Magnetic Resonant,Si/Al Ratio.
