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可编程增益放大器AD526在应变测量中的应用 被引量:3

Application of SPGA AD526 in strain measurement
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摘要 在动态应变信号测试中,经常需要根据信号的幅值不断调整放大器的放大倍数,测量电路复杂,精度低。采用可编程增益放大器和单片机构成自动调整放大增益的应变测试系统,该系统可对动态小应变信号进行采集处理,测量精度高,通用性强。 Measuring the dynamic strain involves the constant modification of gain, as determined by the signal amplitude. This practice suffers from the complex test and the low accuracy. As introduced in this paper, the strain measuring system consists of microchip and SPGA. The application of the system presents such advantages as automatically sampling and processing the small dynamic strain signal. The system features high accuracy and strong universality.
作者 赵斌 匡丽红
出处 《黑龙江科技学院学报》 CAS 2003年第3期48-49,53,共3页 Journal of Heilongjiang Institute of Science and Technology
关键词 应变 可编程增益放大器 单片机 增益 strain soft programmable gain amplifier microchip gain
  • 相关文献

参考文献2

  • 1孙涵芳 徐爱卿.MCS-51/96系列单片机原理及应用[M].北京:北京航空航天大学出版社,2001..
  • 2赵继俊 赵斌.测试技术与信息处理[M].哈尔滨:哈尔滨大学出版社,2001.213.

共引文献6

同被引文献23

引证文献3

二级引证文献10

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